芯片老化測試夾具中的彈片在測試過程中起到什
芯片封測彈片作為芯片測試接觸媒介,是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。在測試過程中,彈片負(fù)責(zé)導(dǎo)電接觸,通過彈片導(dǎo)電傳輸功能體的數(shù)據(jù),從而判斷產(chǎn)品是否正常接觸以及運作數(shù)據(jù)是否正常 【更多詳情】傳真:0769-81690630
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